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CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀DT1

更新時(shí)間:2023-05-16

訪問量:262

廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀DT156涂層測厚儀產(chǎn)品參數(shù):CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀產(chǎn)品信息性價(jià)比兩用測厚儀DT-156涂鍍層測厚儀是CEM華盛昌推出的一款測厚儀產(chǎn)品

CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀DT156涂層測厚儀產(chǎn)品參數(shù):

CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀

產(chǎn)品信息

性價(jià)比兩用測厚儀

DT-156涂鍍層測厚儀是CEM華盛昌推出的一款測厚儀產(chǎn)品。高精確度和人體工程學(xué)設(shè)計(jì)使此產(chǎn)品廣泛適用于各種高精度厚度要求的測量工作環(huán)境。 

此產(chǎn)品在磁性和非磁性物質(zhì)表面上涂鍍層厚度都可以進(jìn)行測量,在汽車、工業(yè)、建筑、機(jī)械設(shè)備等生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域都能發(fā)揮應(yīng)用的作用。

DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下工作。在自動(dòng)模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換,或可通過菜單進(jìn)行自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。

DT-156特色

1.可測量涂鍍層:任何磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度;任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度;

2.測量厚度:0~1250um(0~49.21mils)
3.連續(xù)和單次測量方式
4.直接工作模式和組工作模式
5.可統(tǒng)計(jì)并顯示:平均值/大值/小值/標(biāo)準(zhǔn)方差/統(tǒng)計(jì)數(shù)
6.非常方便的進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)
7.可保存400個(gè)測量數(shù)據(jù)80個(gè)原始數(shù)據(jù)和320個(gè)組數(shù)據(jù))
8.USB傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析統(tǒng)計(jì)
9.實(shí)時(shí)刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)
10.高低限報(bào)警
11.低電和錯(cuò)誤提示可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

12.易操作的菜單設(shè)計(jì)

內(nèi)部結(jié)構(gòu)

DT-156結(jié)構(gòu)介紹

1.USB接口
2.帶背光源LCD顯示屏
3.菜單模式下確定";工作模式進(jìn)入"
4.菜單模式下退出、返回";工作模式背光鍵"
5.向上/向左翻/遞減鍵
6.向下/向右翻/遞增鍵
7.電源開關(guān)鍵
8.零校準(zhǔn)鍵
9.測試探頭

使用方法

1.工作模式:
1-1.AOTO:探頭根據(jù)待測物體性質(zhì)(鐵磁性物質(zhì)或非鐵磁性金屬)自動(dòng)轉(zhuǎn)入相應(yīng)工作模式。如果待測物體是鐵鎳等磁性金屬物質(zhì),探頭將轉(zhuǎn)入磁感應(yīng)原理工作模式;如果待測物體時(shí)非磁性的金屬物質(zhì),探頭將轉(zhuǎn)入渦流原理工作模式。
1-2.Fe:探頭將是磁感應(yīng)原理工作模式。
1-3.No-Fe:探頭將是渦流原理工作模式。
2.直接測量(DIR)開機(jī)默認(rèn)為此模式。用于快速隨意測量。在此模式下,測量數(shù)據(jù)會(huì)臨時(shí)保存在內(nèi)存中,可以通過菜單瀏覽所有已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值,但一旦關(guān)機(jī)、系統(tǒng)掉電或從直接測量模式切換到組工作模式,這些數(shù)據(jù)將會(huì)丟失。此模式下,可統(tǒng)計(jì)80個(gè)數(shù)據(jù),讀數(shù)將替換最舊讀數(shù)并保存更新統(tǒng)計(jì)值。
3.組測量(GR01~GR04)每一組工作模式下,系統(tǒng)可保存最多80個(gè)數(shù)據(jù),5個(gè)統(tǒng)計(jì)值。關(guān)機(jī)和掉電,所有保存值不會(huì)丟失,并且組與組之間相互獨(dú)立不受影響,需要?jiǎng)h除保存的值,可通過菜單操作進(jìn)行。當(dāng)測量數(shù)據(jù)超出80個(gè),數(shù)據(jù)測量可以繼續(xù)進(jìn)行,但是所有數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算。如有需要,可通過菜單刪除組數(shù)據(jù)。

4.讀數(shù)瀏覽:通過“Measurement view"菜單項(xiàng),瀏覽當(dāng)前工作組所有測量讀數(shù)。
5.測量中的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù):厚度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可統(tǒng)計(jì)80個(gè)讀數(shù)(GR01~GR04總共最多可存儲4*80=320個(gè)讀數(shù))。此外,在DIR模式除了讀數(shù)不存儲外,其他和GRO模式相同。
NO.:開機(jī)以來進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的讀數(shù)個(gè)數(shù)
AVG:平均值
Sdev:標(biāo)準(zhǔn)方差
MAX:大讀數(shù)
MIN:小讀數(shù)

產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)

DT-156規(guī)格參數(shù)

測量厚度:0~1250um(0~49.21mils)
精度:0~50um(0.1um);50~850um(1um);850~1250um(0.01mm)
誤差:0~850um(±3%+1um)850~1250um(±5%)
工作原理:磁感應(yīng)(鐵磁性)、渦流(非鐵磁性)
測量最小曲率半徑:1.5mm(鐵磁性)、3mm(非鐵磁性)
最小測量面積:7mm(鐵磁性)、5mm(非鐵磁性)
可測量基體最小厚度:0.5mm(鐵磁性)、0.3mm(非鐵磁性)
工作環(huán)境要求:0~40/20%90%RH
單位換算:milPCB 或晶片布局的長度單位):1 mil = 千分之一英寸,1mil = 0.0254mm 
尺寸:113.5*54*27mm
重量:110g

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